HSBI（High Speed Memory Burn in Tester）是200MHz/400MBPS Memory Burn in Tester，集成了200MHz模式生成器、定时生成器和外形因素

• 提供故障存储器和冗余分析处理器作为可选。

• 包括测试程序开发工具和数据分析工具

• 支持DDR4/5 DRAM、LPDDR、NAND闪存

• 200MHz模式序列器

• 全功能测试 

• 每个插槽220A DPS 

• 基于C++的测试程序 

• -20℃至+150℃，灵活温区调整，-40℃最低可选

• 2室24插槽 

• 自动化接口开放