FXBI
Burn-In Self Test
FXBI
  • FXBI针对HVM制造中的BIST测试进行了成本优化

  • 高密度,可实现高达64 DUTs/模块的出色并行性

  • NIST校准每个DUT的独立电源

  • 支持通用异步收发设备和OOB信号

  • 支持异步或批处理模式测试

  • 支持M.2、U2、U.3、EDSFF和AIC外形 

  • 基于DUT模块-便于在形状因子之间快速更改

  • 基于FF和协议的并行-每个机架最多384个SSD

  • 客户可以选择环境机架或热温箱


  • FXBI旨在支持智能BIST或固件下载,并处理SSD测试的所有电源要求。

  • FXBI可与锐伺NEO的自动化系统一起提供,以提供全自动HVM测试解决方案