BX系列是50MHz或100MHz内存老化测试仪，集成200MHz模式发生器、定时发生器和格式化器，提供测试程序开发工具和数据分析工具

产品特性

• 支持DRAM、NAND闪存和PRAM 

• 50MHz以下

• 全功能测试 

• 40℃至+125℃

• 灵活的每个siteBI测试

• 自动化接口开放

系统规格

• -尺寸：3400（W）×1800（D）×2153（H）mm 

• -重量：3.2吨

• -区域： 4

• -每个区域插槽：8

• -时钟速率范围：高达50MHZ

• -通道/槽：主PPS 8CH（PPS 1,2,4,5,6,7,8,9）/HV PPS 3Ch（PPS3， PPS10，PPS11）

• -总电流：363A

• -温箱类型：双温箱

• -箱体功率：高达5.5千瓦