DRAM和闪存封装的通用监控老化测试仪。
通过在不同条件下控制每个温度区域，客户能够在可靠性验证测试中最大限度地提高系统利用率。
该系统具有测试所有功能项目的能力
目标协议：SRAM、DRAM（DDR、LPDDR、GDDR）闪存（NOR、NAND、EMMC等）、MCP
目标外形：所有类型BGA老化测试插口
温度范围：-40℃~125℃（可选温箱）
Chorus 系列
Chorus 1200