Chorus 系列-Neosem中国代理-SSDTester-储存测试设备-SSD测试设备-深圳市锐伺科技有限公司-领先的自动化系统解决方案

DRAM和闪存封装的通用监控老化测试仪。通过在不同条件下控制每个温度区，客户能够在可靠性验证测试中最大限度地提高系统利用率。系统有能力测试所有功能项目。

HSBI（High Speed Memory Burn in Tester）是200MHz/400MBPS Memory Burn in Tester，集成了200MHz模式生成器、定时生成器和外形因素，提供故障存储器和冗余分析处理器作为可选。